本研究は，太陽電池のバイパス回路として設置された半導体の劣化を，発電機等の接続と太陽電池パネルの発熱観察により，簡便かつ効率的に感知するものである。
本研究によれば，太陽光パネルが備えるバイパス回路の故障を検出する手間を低減することができる
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